Рау Эдуард Иванович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Эффект увеличения коэффициента обратно рассеянных электронов на многослойных наноструктурах и инверсия контраста изображений в сканирующей электронной микроскопии
   
   УФН, 195:4 (2025),  425–431
2. Электризация поверхности кварцевых стекол электронными пучками
   
   Физика твердого тела, 65:8 (2023),  1288–1296
3. Определение толщин и глубин залегания подповерхностных наноструктур с помощью сканирующего электронного микроскопа
   
   Письма в ЖТФ, 48:23 (2022),  22–25
4. Новый сценарий кинетики зарядки диэлектриков при облучении электронами средних энергий
   
   Физика твердого тела, 63:4 (2021),  483–498
5. Зарядка диэлектриков при бомбардировке ионами Ar$^{+}$ средних энергий
   
   Физика твердого тела, 61:6 (2019),  1090–1093
6. Исследование процессов зарядки ионно-имплантированных диэлектриков под воздействием электронного облучения
   
   ЖТФ, 89:8 (2019),  1276–1281
7. Электронно-лучевая зарядка диэлектриков, предварительно облученных ионами и электронами средних энергий
   
   Физика твердого тела, 59:8 (2017),  1504–1513
8. Определение толщин ультратонких поверхностных пленок в наноструктурах по энергетическим спектрам отраженных электронов
   
   ЖТФ, 85:10 (2015),  101–104
9. Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники
   
   ЖТФ, 83:3 (2013),  140–147
10. Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов
    
    Физика и техника полупроводников, 46:6 (2012),  829–832
11. Решение обратной задачи восстановления сигнала электронного микроскопа в режиме отраженных электронов на множестве функций ограниченной вариации
    
    Выч. мет. программирование, 12:3 (2011),  362–367
12. Микротомография полупроводниковых структур в режиме наведенного тока
    
    Докл. АН СССР, 307:4 (1989),  840–844
13. Исследование полупроводниковых структур методами акустической и электронной термоакустической микроскопии
    
    Докл. АН СССР, 301:4 (1988),  849–851
14. Микротомография слоистых сред в конусных пучках
    
    Докл. АН СССР, 296:5 (1987),  1095–1097
15. Вычислительная микротомография объектов в рентгеновской и оптической сканирующей микроскопии
    
    Докл. АН СССР, 289:5 (1986),  1104–1107
16. Зависимость наведенного тока от температуры и локальная спектроскопия примесных уровней методами растровой электронной микроскопии
    
    Физика и техника полупроводников, 20:4 (1986),  607–612
17. Наблюдение межфазовых границ в керамике $Sb\,Si$ в термоволновом изображении
    
    Письма в ЖТФ, 11:16 (1985),  983–986
18. Цветокодированное отображение информации в растровой электронной микроскопии
    
    УФН, 139:1 (1983),  165–168