Орликовский Николай Александрович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. Метод регистрации потенциала зарядки диэлектриков при ионном облучении по сдвигу границы тормозного рентгеновского спектра
   
   ЖТФ, 92:9 (2022),  1467–1470
2. Определение толщин ультратонких поверхностных пленок в наноструктурах по энергетическим спектрам отраженных электронов
   
   ЖТФ, 85:10 (2015),  101–104
3. Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники
   
   ЖТФ, 83:3 (2013),  140–147
4. Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов
   
   Физика и техника полупроводников, 46:6 (2012),  829–832
5. Решение обратной задачи восстановления сигнала электронного микроскопа в режиме отраженных электронов на множестве функций ограниченной вариации
   
   Выч. мет. программирование, 12:3 (2011),  362–367