Цирельсон Владимир Григорьевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

1. How electron delocalization influences the electron-withdrawing properties of isomeric benzobischalcogenadiazoles
   
   Mendeleev Commun., 33:3 (2023),  372–375
2. Bond orders and electron delocalization indices for S–N, S–C and S–S bonds in 1,2,3-dithiazole systems
   
   Mendeleev Commun., 31:5 (2021),  680–683
3. Discrimination of enzyme–substrate complexes by reactivity using the electron density analysis: peptide bond hydrolysis by the matrix metalloproteinase-2
   
   Mendeleev Commun., 30:5 (2020),  583–585
4. The N···H hydrogen bond strength in the transition state at the limiting step determines the reactivity of cephalosporins in the active site of L1 metallo-β-lactamase
   
   Mendeleev Commun., 29:5 (2019),  492–494
5. Взаимное влияние нековалентных взаимодействий в комплексах и кристаллах с галогенными связями
   
   Усп. хим., 83:12 (2014),  1181–1203
6. Electron-density and electrostatic-potential features of orthorhombic chlorine trifluoride
   
   Mendeleev Commun., 20:3 (2010),  161–164
7. Особенности кристаллической структуры $\mathrm{KTiOPO}_4$ и $\mathrm{KFeFPO}_4$ при $110$ К
   
   Докл. РАН, 322:3 (1992),  520–524
8. Особенности кристаллической структуры $\mathrm{KFeFPO}_4$ при $295$ и $173$ К
   
   Докл. АН СССР, 310:5 (1990),  1129–1134
9. Особенности электронного строения гадолиний-скандий-галлиевого граната
   
   Докл. АН СССР, 308:5 (1989),  1115–1118
10. Распределение электронной плотности и градиент электрического поля в гематите при $153$ К по прецизионным рентгеновским дифракционным данным
    
    Докл. АН СССР, 298:5 (1988),  1137–1141
11. Дифракционные методы исследования электронной плотности и динамики решетки кристаллов
    
    Усп. хим., 55:4 (1986),  608–636
12. Распределение электронной плотности в гематите $\alpha$-$\mathrm{Fe}_2\mathrm{O}_3$ по прецизионным рентгеновским дифракционным данным
    
    Докл. АН СССР, 281:4 (1985),  854–857
13. Сплайн-коррекция функции электронной плотности на эффект обрыва ряда Фурье
    
    Докл. АН СССР, 280:5 (1985),  1136–1139
14. Определение коэффициентов представления одноэлектронной матрицы плотности кристалла из рентгеновских дифракционных данных
    
    Докл. АН СССР, 271:5 (1983),  1130–1133
15. Вычисление парциальных и полных амплитуд рассеяния рентгеновских лучей в слейтеровском базисе
    
    Докл. АН СССР, 254:2 (1980),  370–374
16. Определение зарядов – порядков связей из дифракционных данных
    
    Докл. АН СССР, 233:1 (1977),  108–110