RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Горшков Алексей Павлович

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Влияние разориентации подложки на свойства $p$-НЕМТ наногетероструктур на основе GaAs, формируемых в процессе MOCVD эпитаксии

    ЖТФ, 92:10 (2022),  1582–1587
  2. Проектирование дизайна туннельно-связанных квантовых ям для создания модулятора по схеме Маха–Цендера

    Физика и техника полупроводников, 56:9 (2022),  833–838
  3. Исследование влияния оптического излучения на резистивное переключение МДП-структур на основе ZrO$_2$(Y) на подложках Si(001) с наноостровками Ge

    Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022),  723–727
  4. Влияние оптического излучения на резистивное переключение в МДП-структурах на основе пленок ZrO$_{2}$(Y) с наночастицами Au

    Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021),  754–757
  5. Связь электронных свойств квантовых точек InAs/GaAs, выращенных газофазной эпитаксией, с их структурой

    Физика и техника полупроводников, 52:12 (2018),  1421–1424
  6. Влияние импульсного гамма-нейтронного облучения на фоточувствительность фотодиодов на базе Si с наноостровками GeSi и эпитаксиальными слоями Ge

    Физика и техника полупроводников, 52:6 (2018),  651–655
  7. Plasmon resonance induced photoconductivity in the yttria stabilized zirconia films with embedded Au nanoclusters

    Физика и техника полупроводников, 52:4 (2018),  470
  8. Влияние состава покровного слоя на электронные характеристики квантовых точек InAs/GaAs

    Физика и техника полупроводников, 51:11 (2017),  1447–1450
  9. Исследование пространственного распределения фототока в плоскости Si–$p$$n$-фотодиода с наноостровками GeSi методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии

    Физика и техника полупроводников, 51:4 (2017),  563–568
  10. Влияние нанесения кобальта на оптоэлектронные свойства квантово-размерных гетеронаноструктур In(Ga)As/GaAs

    Физика и техника полупроводников, 49:12 (2015),  1640–1643
  11. Фотодетекторы на базе гетероструктур Ge/Si(001), выращенных методом горячей проволоки

    Физика и техника полупроводников, 49:10 (2015),  1411–1414
  12. Фотодиоды на базе массивов самоформирующихся наноостровков GeSi/Si(001), выращенных методом комбинированной сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии Si и газофазной эпитаксии Ge

    Физика и техника полупроводников, 49:3 (2015),  399–405
  13. Влияние пространственного расположения $\delta$-слоя Si на оптоэлектронные свойства гетеронаноструктур с квантовой ямой InGaAs/GaAs

    Физика и техника полупроводников, 49:2 (2015),  145–148
  14. Эмиссия фотовозбужденных носителей из квантовых точек InAs/GaAs, выращенных газофазной эпитаксией

    Письма в ЖЭТФ, 100:3 (2014),  175–180
  15. Исследование гетероструктур с комбинированным слоем квантовых точек/квантовой ямы In(Ga)As/GaAs и $\delta$-слоем Mn

    Физика и техника полупроводников, 47:12 (2013),  1617–1620
  16. Оптоэлектронные свойства гетеронаноструктур с комбинированными слоями квантовых ям и точек In(Ga)As/GaAs

    Физика и техника полупроводников, 47:12 (2013),  1609–1612
  17. Влияние облучения ионами He$^+$ на спектры фоточувствительности гетероструктур с квантовыми ямами и точками In(Ga)As/GaAs

    Физика и техника полупроводников, 46:12 (2012),  1542–1545
  18. Влияние дефектообразования при встраивании $\delta$-слоя Mn на спектр фоточувствительности от квантовых ям InGaAs/GaAs

    Физика и техника полупроводников, 46:2 (2012),  194–197


© МИАН, 2026