RUS  ENG
Полная версия
ПЕРСОНАЛИИ

Зуев Вячеслав Васильевич

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

  1. Влияние водорода на термоэлектрический сигнал напряжения в слоистой структуре Pt/WO$_{x}$/6$H$-SiC/Ni/Pt

    Письма в ЖТФ, 43:17 (2017),  27–35
  2. Действие водорода на электрофизические характеристики структурных элементов тонкопленочной системы Pt/WO$_x$/6H-SiC

    Физика и техника полупроводников, 49:9 (2015),  1262–1272
  3. Реализация энергоэкономного режима детектирования водорода с применением полупроводниковой структуры Pt/WO$_x$/SiC

    Письма в ЖТФ, 41:17 (2015),  18–26
  4. Об особенностях детектирования водорода полупроводниковой структурой, полученной на подложке 6H-SiC комбинированным методом ионной имплантации и осаждения платины

    Физика и техника полупроводников, 48:5 (2014),  621–630
  5. Высокотемпературный детектор водорода со структурой Pt/Pt+/$n$-6H–SiC

    Письма в ЖТФ, 39:18 (2013),  78–86
  6. Свойства тонких пленок оксида вольфрама, формируемых методами ионно-плазменного и лазерного осаждения для детектора водорода на основе структуры MOSiC

    Физика и техника полупроводников, 46:3 (2012),  416–424
  7. Ионная имплантация платины из импульсной лазерной плазмы для формирования детектора водорода на кристалле $n$-6H-SiC

    Физика и техника полупроводников, 45:5 (2011),  694–701
  8. Электрофизические характеристики тонкопленочных структур, созданных импульсным лазерным осаждением металлов Au, Ag, Cu, Pd, Pt, W, Zr на кристалл $n$-6H-SiC

    Физика и техника полупроводников, 44:9 (2010),  1229–1235
  9. Влияние энергетических параметров осаждаемого лазерно-инициированного потока атомов платины на характеристики тонкопленочной структуры Pt/$n$-6H-SiC

    Физика и техника полупроводников, 44:4 (2010),  556–563
  10. Температурная зависимость времени релаксации фотопроводимости $n$-Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te в микроволновом поле

    Физика и техника полупроводников, 26:1 (1992),  171–173
  11. Измерение решеточной составляющей теплопроводности кремния методом объемной фотодефлекционной спектроскопии

    ТВТ, 26:6 (1988),  1242–1244

© МИАН, 2026