|
|
Publications in Math-Net.Ru
-
Радиационная стойкость датчиков МНПВО на основе двойных гетероструктур $p$-InAsSbP/$n$-InAs, облученных гамма-квантами
Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 96:1 (2026), 112–121
-
A compact cryothermostat with solid carbon dioxide refrigerant
Pisma v Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 45:24 (2019), 3–5
-
Conductivity compensation in $n$-4H-SiC (CVD) under irradiation with 0.9-MeV electrons
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 48:8 (2014), 1033–1036
-
The formation of shallow-donor distribution profiles in proton irradiation of silicon
Pisma v Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 40:23 (2014), 67–73
-
Electron irradiation controlled profile of recombination center concentration in silicon
Pisma v Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 37:9 (2011), 105–110
-
О природе $K$-центра в кремнии
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 24:12 (1990), 2186–2190
-
О применимости метода температурной зависимости емкости и активной
проводимости для определения параметров глубоких центров
в перекомпенсированном полупроводнике
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 24:10 (1990), 1841–1847
-
Распределение атомов кремния по пороговой энергии смещения и его
зависимость от температуры
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 24:10 (1990), 1816–1822
-
Влияние электрического поля на профиль концентрации радиационных
дефектов в кремнии, облученном электронами с энергией вблизи порога
дефектообразования
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 24:7 (1990), 1213–1215
-
Влияние интенсивности электронного облучения на накопление
$K$-центров в кремнии
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 24:2 (1990), 372–374
-
О природе радиационных дефектов в $n$-кремнии, облученном электронами
с энергией вблизи порога дефектообразования
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 23:12 (1989), 2129–2132
-
Влияние зарядовых состояний вакансий на накопление дивакансий
в кремнии при электронном облучении
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 23:11 (1989), 1921–1926
-
Скорость введения и профиль концентрации $A$-центров в $n$-кремнии,
облученном электронами с энергией вблизи порога дефектообразования
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 23:4 (1989), 753–756
-
Кинетика накопления доноров в селениде свинца при корпускулярном
облучении
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 23:1 (1989), 177–178
-
Спектр и пространственное распределение радиационных дефектов
в облученном протонами кремнии
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 22:3 (1988), 534–536
-
Properties of high pressure deformed silicon crystals
Fizika Tverdogo Tela, 29:5 (1987), 1486–1491
-
Boron and Hydrogen Anomalous Distribution at Considerable Depths in Silicon after Diffusion Stimulated by Proton-Irradiation
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 21:7 (1987), 1238–1241
-
Rate of Formation of $A$ Centers and Divacancies in $n$-Type Silicon under Electron Irradiation
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 21:6 (1987), 1136–1138
-
Proton-Stimulated Diffusion of Phosphorus Implanted into Silicon
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 21:2 (1987), 360–362
-
Effect of Electron Irradiation on Impurity Diffusion in Monocrystalline Semiconductors
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 20:9 (1986), 1577–1581
-
Rate of $A$-Center Formation in Silicon under Electron Pulsed Irradiation
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 20:1 (1986), 164–167
-
DIFFUSION OF THE SUBSTITUTION IMPURITY IN THE ION-IRRADIATED CRYSTAL
Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 55:11 (1985), 2175–2178
-
Effect of Oxygen on Boron Redistribution in Silicon under High-Temperature Proton Irradiation
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 19:1 (1985), 143–145
-
REDISTRIBUTION OF A CHARGED ADMIXTURE IN A SEMICONDUCTOR IN CONDITIONS
OF PROTON-STIMULATED DIFFUSION
Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 54:6 (1984), 1157–1162
-
Зависимость концентраций радиационных дефектов в кремнии
$p$-типа от интенсивности облучения быстрыми электронами
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 18:8 (1984), 1496–1497
-
Antimony Diffusion in Silicon Stimulated by Protons
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 18:5 (1984), 958–960
-
Effect of Surface on Radiation Defect Formation in Silicon under High-Temperature Proton Irradiation
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 18:5 (1984), 956–958
© , 2026