RUS  ENG
Full version
PEOPLE

Rytova Natalya Sergeevna

Publications in Math-Net.Ru

  1. Образование молекул водорода в арсениде галлия $n$-типа при его гидрогенизации

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 25:6 (1991),  1078–1080
  2. Анализ диффузионных профилей водорода, образующихся при гидрогенизации полупроводниковых образцов

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 25:6 (1991),  990–996
  3. О пассивации электрически активных центров в полупроводниках нейтральным атомарным водородом

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 25:2 (1991),  316–322
  4. Механизм формирования неоднородности в нелегированных монокристаллах арсенида галлия, полученных методом Чохральского

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 22:6 (1988),  1004–1010
  5. On the Spatial Correlation between Donors and Acceptors in Epitaxial Layers of GaP with Isovalent and Rare-Earth Impurities

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 21:11 (1987),  2061–2065
  6. Electric Properties of Indium Arsenide Irradiated by Fast Neutrons

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 21:3 (1987),  521–524
  7. Equilibrium Concentration of Vacancies in Semiconductor Compound during Its Doping by Isovalent Impurities

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 20:8 (1986),  1514–1517
  8. On the Determination of Deep-Center Parameters in High-Resistance Semiconductors by Photoelectric Relaxation Spectroscopy of Deep Levels

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 20:8 (1986),  1428–1432
  9. Effect of Isovalent Impurities — Sources of Elastic Stress in a Crystal–on the Behaviour of Point Defects

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 20:8 (1986),  1380–1387
  10. Properties of Nucleus-Doped Indium Arsenide

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 20:5 (1986),  822–827
  11. On the Nature of Inhomogeneity Formation in InSb

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 19:9 (1985),  1585–1588
  12. Особенности дефектообразования в кремнии, содержащем изовалентную примесь олова

    Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 18:9 (1984),  1573–1576
  13. Coulomb interaction of electrons in a thin film

    Dokl. Akad. Nauk SSSR, 163:5 (1965),  1118–1120


© Steklov Math. Inst. of RAS, 2026