Метод регистрации фазы для визуализации однослойного и двуслойного графена на поверхности SiC

A. D. Rodionchikova, M. S. Dunaevskii, E. V. Gushchina, S. Yu. Priobrazhenskii, S. P. Lebedev, A. A. Lebedev

Ioffe Institute, St. Petersburg

Received: 02.10.2025
Revised: 22.11.2025
Accepted: 23.11.2025

DOI: 10.61011/PJTF.2026.06.62458.20513