Электронно-микроскопический анализ зоны контакта плазменное покрытие–подложка

I. V. Baklushina^a, V. E. Gromov^a, Yu. F. Ivanov^b, I. Yu. Litovchenko^c, A. S. Chapaykin<sup>a

a</sup> Siberian State Industrial University, Novokuznetsk
^b Institute of High Current Electronics, Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences, Tomsk
^c Institute of Strength Physics and Materials Science, Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences, Tomsk

Received: 25.06.2025
Revised: 28.10.2025
Accepted: 28.10.2025

DOI: 10.61011/PJTF.2026.04.62324.20416