RUS  ENG
Full version
JOURNALS // Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki // Archive

Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 2026 Volume 96, Issue 2, Pages 336–344 (Mi jtf9657)

Solid-State Electronics

Модификация параметров AlGaN/GaN-транзисторных структур пассивацией и обработкой в водородной плазме

A. V. Kovalchuka, V. E. Zemlyakovb, S. I. Kartsevb, D. S. Shpakovb, S. Yu. Shapovala

a Institute of Microelectronics Technology and High-Purity Materials RAS
b National Research University of Electronic Technology

Received: 08.05.2025
Revised: 07.08.2025
Accepted: 14.08.2025

DOI: 10.61011/JTF.2026.02.62293.109-25



© Steklov Math. Inst. of RAS, 2026